【48812】新品发布 rBT3250-50G突发误码剖析仪支撑突发和接连形式信号输出及误码测验

  近期，联讯仪器重磅发布新品，rBT3250-50G突发误码剖析仪——支撑突发和接连形式信号输出及误码测验。

  rBT3250是专关于下一代25G/50G无源光网络(PON)使用的光线路终端(OLT)测验新式突发误码剖析仪，用于评价突发形式下的25G及50GOLT接纳机功能。

  rBT3250供给2个独立的突发码型发生器和误码探测器通道，支撑接连形式或突发形式误码剖析，具有两路突发时分码型序列发生和误码剖析才能，码型时序灵敏可调。并针对器材测验需求，给相应测验通道供给同步的激光器使能、复位信号等低速操控通道。产品内置时钟康复，能够主动测距，轻松应对长纤测验。

  如图a所示，建立50GPON突发测验环境，首要由两个ONU模块和一个OLT模块组成。突发误码测验仪两个突发通道PPG时分替换发送具有突发帧结构的数据（preamble&Data）及激光器使能信号（enable），使两个ONU模块替换发送突发数据，别离经过衰减器，模仿不同长度光纤上的功率衰减，经过分光路器组成一路光，接入OLT模块。突发误码测验仪ED向OLT发送reset信号并接纳突发数据，进行两路突发误码比较。

  如图b所示，在双突发测验过程中，突发误码测验仪经过装备两个突发通道的突发帧长度（preamble&Data），以及衰减器的衰减量，能够充沛检测OLT模块在接纳不同光功率，不同突发数据长度时的功能。

  联讯仪器是国内高端测验仪器和设备供货商。首要专心于高速通讯、光芯片、电芯片和第三代半导体功率芯片等测验外表和设备的研制制作。企业能供给包含宽带采样示波器、高速误码仪、网络流量测验仪、高精度快速波长计、精细数字源表、低走漏矩阵开关等高端测验仪器，以及高速光电混合ATE、半导体激光器CoC老化、裸Die芯片测验、硅光晶圆测验、SiC晶圆老化、SiC裸Die功率芯片KGD测验分选、WAT晶圆允收检测体系、WLR/PLR可靠性检测体系等高端测验设备。